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高分辨率X射线显微镜

联系人:阮音捷、程国峰

地址:上海市嘉定区和硕路585

电话:021-6916355869163602

邮件:gfcheng@mail.sic.ac.cn

是材料研究必备的三维形貌和缺陷表征手段,具有纳米量级的空间分辨率,可对材料进行原位、无损的微观结构检测,可表征材料中孔隙、微裂纹等缺陷以及纤维方向、夹杂等,可通过分析微观模型尺寸对材料宏观属性的影响,从而对材料性能进行预测。

仪器主要性能指标:最大电压160kV三维成像空间分辨率500nm以下、温度范围-20℃~150℃、拉伸力最大5kN

应用范围:(1缺陷分析:材料微裂纹等缺陷的分布,基体的粘结程度和界面的形态,以及局部纤维取向和厚度,颗粒尺寸和形状,模拟其在三维空间内萌生、扩展以及合并的过程。(2三维形貌分析:材料孔径大小、分布,纤维的类型、半径、长度、朝向以及扭曲度进行定性定量表征,材料微观三维结构,如孔隙率、孔隙连通性、孔径大小等的表征和三维重构。