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X射线荧光分析
(1) X射线荧光光谱仪
仪器型号:AXIOS | |
生产厂家:荷兰PANalytical | |
负责人:高捷,盛成 | |
联系地址:嘉定区和硕路585号E-205 | |
联系电话:69163618,69163787 | |
手机号码:13816374908(高捷),13816828530(盛成) | |
邮件地址:gaojie@mail.sic.ac.cn, lain@mail.sic.ac.cn | |
主要技术指标 |
1.可测元素范围:6C-92U的元素。常规分析一般只包括原子序数≥11(Na)的元素,其他元素只在特定情况下才能测定(如钢铁中的C等) 2.检测浓度范围:大部分元素0.000x%--100% 3.探测器:闪烁计数器(最大计数率1000kcps),流气正比计数器(最大计数率2000kcps),封闭式正比计数器(Xe)(最大计数率1000kcps) 4.高压发生器:最大功率4kW,稳定度0.0005%(外电源波动为1%时),外电源允许波动范围±10% 5. X光管:超锐端窗Rh靶,最大功率4kW(60kV,125mA) 6.测角仪:2θ角准确度0.0025°;2θ角重复性0.0001°,扫描速度2θ0.0001--2°/s可调 |
仪器主要用途 |
适用于测定无机材料中元素的定性、定量和半定量分析,以及薄膜的组成和厚度的测定。 |
(2) 全反射X射线荧光光谱仪
仪器型号:S2 PICOFOX | |
生产厂家:德国布鲁克 | |
负责人:高捷 | |
联系地址:嘉定区和硕路585号E-916 | |
联系电话:69163787 | |
手机号码:13816374908(高捷) | |
邮件地址:gaojie@mail.sic.ac.cn | |
主要技术指标 |
1.可测元素范围:Al~U(靶元素和与靶元素干扰严重的元素除外) 2.检测浓度范围:10-9~100% 3.检出限:Ni≤2pg 4.激发源:最大功率≥30W;最大激发电压≥50kV,最大激发电流≥1mA 5.最大计数率≥100kcps 6.测量强度的重复性:RSD≤1% |
仪器主要用途 |
适用于分析液体、粉末、固体样品中常量、次量和痕量元素的快速分析,能够迅速准确分析从Al~U(除惰性气体及少部分元素外)的所有元素 |