Rigaku D/max 2550V 18kW高功率转靶X射线衍射仪

联系人：孙玥、程国峰 

地址：上海市定西路1295号3#楼203室 

电话：021-52413201,021-52414219 

邮件：ysun@mail.sic.ac.cn

gfcheng@mail.sic.ac.cn

仪器参数：  

X射线发生器：功率18kW（40kV,450mA），Cu旋转阳极靶  

扫描方式：θ-2θ测角仪  

X射线发生器稳定度：<0.01%  

测角仪精度（2θ）：0.002°  

附件：多目的测试附件MPA-2000,高温装置SHT-1500    

应用范围：  

掠入射XRD、残余应力、常规XRD扫描、物相定性分析、物相定量分析、结晶度、晶胞参数精确计算、晶粒尺寸（微观应力）、Rietveld结构精修等 。 

Bruker D8 ADVANCE高分辨率粉末X射线衍射仪

联系人：孙玥、程国峰 

地址：上海市定西路1295号3#楼203室 

电话：021-52413201,021-52414219 

邮件： ysun@mail.sic.ac.cn 

gfcheng@mail.sic.ac.cn

仪器参数：  

X射线发生器：Cu靶，功率3kW，陶瓷光管  

扫描方式：θ-θ测角仪  

探测器：LynxEye阵列探测器 （角度分辨率0.037°，衍射强度达10⁸cps）  

应用范围：  

常规XRD扫描、物相定性分析、物相定量分析、结晶度、晶胞参数精确计算、晶粒尺寸（微观应力）、Rietveld结构精修等 。 

Bruker D8 ADVANCE高分辨率粉末X射线衍射仪

联系人：阮音捷、程国峰 

地址：上海市和硕路585号E楼201室 

电话：021-69163600、021-69163558 

邮件：ryj@mail.sic.ac.cn 

gfcheng@mail.sic.ac.cn

仪器参数： 

3kW陶瓷X光管、可变狭缝、能量色散二维阵列探测器（能量分辨率小于380eV)、动态光路优化系统 

应用范围： 

常规XRD扫描、物相定性分析、物相定量分析、结晶度、晶胞参数精确计算、晶粒尺寸（微观应力）、Rietveld结构精修等 

Bruker D8 Discover高功率转靶X射线衍射仪

联系人：阮音捷、程国峰 

地址：上海市和硕路585号E楼201室

电话：021-69163600、021-69163558 

邮件：ryj@mail.sic.ac.cn

gfcheng@mail.sic.ac.cn 

仪器参数： 

旋转阳极Cu靶；X射线发生器最大输出功率6kW，额定电压40kV，额定电流150mA；能量色散阵列探测器的能量分辨率优于380eV；高精度五轴尤拉环样品台。 

应用范围： 

掠入射XRD、常规XRD扫描、物相定性分析、物相定量分析、结晶度、晶胞参数精确计算、晶粒尺寸（微观应力）、Rietveld结构精修等 

 Bruker D8 Discover微焦斑二维X射线衍射仪

联系人：阮音捷、程国峰 

地址：上海市和硕路585号E楼201室 

电话：021-69163600、021-69163558 

邮件：ryj@mail.sic.ac.cn 

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仪器参数： 

微聚焦X射线光源IμS，光源通量（出光口，配合多层膜反射镜子）：不小于1.0x10¹⁰cps/mm² 

探测器有效面积：≥140mm ×140mm 

像素尺寸：不大于68μm×68μm  

最小光斑尺寸20μm 

样品台：高精度五轴尤拉环样品台 

应用范围： 

1. 微区XRD分析 

2. 残余应力测定 

3. 织构测定 

4. 高通量XRD表征 

 Bruker D8 Advance原位X射线衍射仪 

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电话：021-69163600,021-69163558 

邮件：ryj@mail.sic.ac.cn 

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仪器参数：  

X射线发生器：Cu靶，功率3kW，陶瓷光管  

扫描方式：θ-θ测角仪  

探测器：LynxEye阵列探测器  

温度范围：RT-1600℃、-180-450℃、RT-900℃、RT-2300℃ 

原位附件：RT-900℃原位化学反应池（可通H₂/O₂、加压）、电催化原位反应池、锂（空）电池原位反应池、电场原位（场强：0-6MV·m^-1） 

应用范围：  

1、可进行粉体、块体、薄膜等材料在真空、N₂气、Ar气等环境下的高低温X射线分析，用来研究材料的相变过程及热力学性质； 

2、可进行材料的原位化学反应、原位电催化X射线衍射研究；可进行锂（空）电池的原位X射线衍射研究； 

3、可进行电场作用下材料的晶体结构演化研究。 

 Bruker D8 Discover高分辨X射线衍射仪

联系人：阮音捷、程国峰

地址：上海市和硕路585号E楼201室

电话：021-69163600,021-69163558

邮件ryj@mail.sic.ac.cn 

gfcheng@mail.sic.ac.cn 

仪器参数：  

X射线发生器：Cu靶，功率3kW，陶瓷光管  

扫描方式：θ-θ测角仪  

探测器：LynxEye阵列探测器、NaI闪烁计数器  

光学附件：Gobel镜、Ge(022)分析晶体  

高精度五轴全自动尤拉环： CHI圆 -11°-- 98°；PHI圆，360度 ；X轴平移, 80mm ；Y轴平移, 80mm；Z轴平移, 2mm  

高温附件：RT-900℃ 

应用范围：  

1、薄膜掠入射分析（GID）：精确分析多层膜中材料的组成、次序、取向等；  

2、薄膜反射分析(XRR)：针对多晶、单晶多层薄膜厚度、密度、粗燥度进行精确分析；  

3、高分辨衍射(HRXRD)：针对高质量的外延薄膜、单晶材料，开展摇摆曲线，倒易空间mapping分析。  

4、可进行单晶外延膜等材料的退火研究/高温下的高分辨X射线衍射表征。 

 Bruker D8 VENTURE微焦斑转靶单晶X射线衍射仪

联系人：阮音捷、程国峰

地址：上海市和硕路585号E楼201室

电话：021-69163600、021-69163558

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gfcheng@mail.sic.ac.cn

仪器参数： 

二维面探测器：采用CMOS成像技术探测器 

Mo光源：阳极自转靶 

光学系统：多层膜微聚焦光学系统 

三轴（ω，2θ，φ）测角仪：角度重现性±0.0001° 

液氮低温系统：温度范围80-500K 

应用范围： 

1.单晶体原子坐标、键长键角、构型、原子的热振动、电子分布等结构信息表征； 

2.单晶体原子占位、缺陷、成键作用等微观结构等信息的表征； 

3.中低温下单晶材料的结构解析。