一种测量物体内部缺陷尺寸的方法--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

一种测量物体内部缺陷尺寸的方法

专利类别:

发明

专利（申请）号:

201910080527.2

申请日期:

2019/1/28

第一发明人:

杨晓

其他发明人:

刘桂玲，刘学建，杨金晶，姚秀敏，黄政仁，陈忠明，陈健

专利授权日期:

20221014