一种工业CT分析物体密度及密度分布的方法--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

一种工业CT分析物体密度及密度分布的方法

专利类别:

发明

专利（申请）号:

201610237541.5

申请日期:

第一发明人:

杨晓

其他发明人:

刘学建,姚秀敏,黄政仁,陈健,杨金晶

专利授权日期: