一、Hitachi HF5000聚光镜球差校正透射电镜 　

　　仪器参数 

　　加速电压：200kV；60kV 

　　TEM点分辨率：0.23nm；信息分辨率：0.13nm 

　　STEM暗场分辨率：0.078nm@200kV；0.204@60kV 

　　EDS能谱（双探头）能量分辨率：127eV (Mn Ka)；56eV (C Ka) 

　　Gatan OneView IS超快速CMOS相机：全像素最大采集速度25帧/秒，最高读出速度300fps@512′512 pixels 

　　Gatan 965 GIF Quantum ER能量过滤/电子能量损失谱系统：系统分辨率优于0.5eV@200kV；配备DualEELS功能、空间分辨选区EELS功能（SR-EELS） 　　  

　　设备功能 

　　主要用于无机材料原子尺度的结构和元素表征，仪器的功能包括：  

　　电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射  

　　成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、原子分辨STEM像 (明场（BF）像、高角环状暗场（HAADF）像、环状明场（ABF）像)  

　　微区成分：可达原子尺度的EDS和EELS的点、线和面分析 ；EELS的能量过滤像 

　　二次电子像：样品表面形貌及高分辨成像 

　　原位表征：气氛引入原位系统 (MEMS加热样品杆附件：室温~1000°C)  　  

　　应用范围 

　　除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材 　　  

　　联系方式 

　　联系人：卢萍，朱晨曦 

　　地址：上海市嘉定区和硕路585号E楼108房间 

　　电话：021-69163668 

二、JEM-2100F场发射透射电子显微镜

　　仪器参数： 

　　超高分辨极靴 (UHR) 

　　点分辨率：0.19nm；线分辨率：0.14nm 

　　STEM (HAADF)分辨率：0.20nm 

　　最小束斑：0.2nm 

　　样品杆最大倾斜角 (X、Y):  ±25° 

　　Oxford能谱仪 (EDS)　　　　能量分辨率：~130eV (MnK线)

　　　　　　　　　　　　　　　元素范围：⁵B ~ ⁹²U 

　　设备功能： 

　　主要用于无机材料微观结构与组成的分析和研究，仪器的功能包括： 

　　电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射 

　　成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、扫描透射像 (明场像、环状暗场像) 

　　微区成分：EDS能谱的点、线和面分析 

　　原位表征：温场下的结构演变 (加热样品杆附件：室温~1000°C) 

　　应用范围 

　　材料范围：除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于有机和生物材料 

　　表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布 

　　　　　　　晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成 

　　　　　　　结构相变原位研究