1. 学术专著：钱荣，卓尚军，董疆丽，魏娟，《辉光放电质谱理论与应用》，上海科学技术出版社，上海，2017，ISBN: 978-7-5478-3852-5.  

　　2. 学术专著：卓尚军，陶光仪，韩小元著，《X射线荧光光谱的基本参数法》，上海科学技术出版社，上海，2010，ISBN 978-7-5478 -0507-7/TN.2  

　　3. 吉昂，卓尚军，李国会编著，《能量色散X射线荧光光谱》，科学出版社，北京，2011，ISBN 978-7-03-032029-2.  

　　4. 编写组，《无机材料成分分析与结构表征》X射线荧光光谱分析部分，高等教育出版社，北京，2006，ISBN 7-04-019946-7。  

　　5. 吉昂，陶光仪，卓尚军，罗立强编著，X射线荧光光谱，科学出版社，北京，2003，ISBN 7-03-010868-X  

　　6. 专著章节：Rong Qian, Jing Zhou, Shengjun Yao, Haoyang Wang, Yinlong Guo*, Studies of Reaction Mechanism Intermediates by ESI-MS in “Reactive Intermediates MS Investigations in Solution”, 1st ed., Wiley-VCH, Weinheim, (ISBN: 978-3-527-32351-7), 2010, 113-129.  

　　7. 卓尚军，申如香，，虞玲，刘芬，沈电洪，丁训民，国家标准《表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析》（GB/Z 32494-2016），2016年2月24日发布，2017年1月1日实施  

　　8. 卓尚军，钱荣，董疆丽，申如香，盛成，高捷，郑文平，国家标准《多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法》（GB/T 33236-2016），2016年12月13日发布，2017年11月1日实施。  

　　9. 卓尚军，孙伟嬿，鲁晓珂，邦发，承焕生，屈海云，文物保护行业标准《古代陶瓷科技信息提取规范 化学组成分析方法》（WW/T 0054-2014），2014年4月29日发布，2014年6月1日实施。  

　　10. 姚栋樑，李强，卓尚军，付献，姜雪娇，徐家骥，吴斌，吴彦，机械行业标准《能量色散X射线荧光光谱仪 第一部分：通用技术》（JB/T1296.1-2016）,2016年10月22日发布，2017年4月1日实施。  

　　11. 金德龙，陆晓明，卓尚军，仇金辉，高建平，张毅，王姜维，国家标准《含铁尘泥 X射线荧光光谱化学分析 熔融铸玻璃片法》（GB/T 29513-2013），2013年5月9日发布，2014年2月1日实施。  

　　12. 软件著作权：卓尚军，佘晓萌，斯琴毕力格，X射线荧光光谱波谱-能谱通用解谱程序(WED-XRF-Spectra V1.0)，登记号2017SR669587  

　　13. 软件著作权：卓尚军，佘晓萌，郑文平，波长-能量色散复合型X射线荧光光谱智能化仪器控制与数据处理系统(i_VXRFS V1.0)，登记号2018SR019948  

　　14. 专利：郑文平，卓尚军，固体取样装置，专利申请号：ZL 201410139499.4. (已授权)  

　　15. 专利：钱荣，一种应用辉光放电质谱分析非导体材料的方法，专利号: ZL 201010606816.0. (已授权)  

　　16. 专利：钱荣，卓尚军，周雷，朱月琴，运用阵列磁铁增强射频辉光放电质谱信号强度的装置及方法，专利号: 201810301629.8  

　　17. 专利：钱荣，卓尚军，董疆丽，王群，运用环形磁场增强射频辉光放电质谱离子信号强度的装置及方法，专利号: 201810301634.9  

　　18. 专利：钱荣，卓尚军，李中权，高捷，运用可调节磁场增强射频辉光放电质谱信号强度的装置及方法，专利号: 201810301640.4  

　　19. 专利：董疆丽、卓尚军、钱荣、盛成，一种用于辉光放电质谱分析的笼状进样装置及样品测试方法，发明专利，专利号: 201810820887.7.