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检测服务
课题组现拥有辉光放电质谱仪(GD-MS)、射频辉光放电质谱(rf-GD-MS)、X射线光电子能谱仪(XPS)、X射线荧光光谱仪(XRF)、全反射X射线荧光光谱仪、液相色谱质谱(LC-MS)、气相色谱质谱(GC-MS)、傅里叶红外变换光谱仪(FT-IR)等一系列大型精密仪器。基于材料的化学组成和化学状态的检测和表征,开展理论和应用研究、仪器研制、应用软件开发、创新方法和标准的研制,包括X射线荧光光谱、辉光放电质谱、X射线光电子能谱、材料中气体元素分析、传统化学分析、颗粒度分布测定等。
测试项目 |
测试内容 |
适用于高纯金属、溅射靶材、稀贵金属、超级合金等材料的痕量杂质的半定量和定量分析 | |
适用于样品成分表面分析,价态分析,多层膜深度剖析等 | |
适用于测定无机材料中元素的定性、定量和半定量分析,以及薄膜的组成和厚度的测定 | |
适用于分析液体、粉末、固体样品中常量、次量和痕量元素的快速分析,能够迅速准确分析从Al~U(除惰性气体及少部分元素外)的所有元素 | |
适用于复杂基质中痕量化合物的精确定量分析,同时兼具定性分析功能 | |
适用于常见化合物、农药、环境污染物、代谢物、化学污染物等残留物的定性及准确定量分析 | |
适用于有机、无机、高分子、半导体、复合材料中气态、液态、固态等成分快速鉴定;低温红外显微成像;可实现微区分析、薄层分析、材料缺陷快速定位与分析
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化学定量分析、阴离子-电化学分析、碳硫含量分析、氮氧含量分析、粒度分析等 | |
表面轮廓仪 |
适用于固体材料的薄膜厚度、表面粗糙度、3D扫描 |