一、ThermoFisher Spectra 300聚光镜球差校正透射电镜 　

仪器参数

加速电压：30~300kV

信息分辨率：100pm

STEM分辨率：50 pm @ 300 kV

Super-X超级能谱能量分辨率：≤ 136 eV (Mn Ka)

设备功能

主要用于无机材料原子尺度的结构和元素表征，仪器的功能包括： 

电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射 

成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、原子分辨STEM像 (明场（BF）像、高角环状暗场（HAADF）像、环状明场（ABF）像、积分差分相位衬度（iDPC）像) 

微区成分：可达原子尺度的EDS的点、线和面分析

原位表征：原位力、电、温等外场下的结构演变

应用范围

除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材

联系方式

联系人：禄晓玥

地址：上海市嘉定区和硕路585号E楼107房间

电话：021-69163668

二、Hitachi HF5000聚光镜球差校正透射电镜 　

仪器参数 

加速电压：200kV；60kV 

TEM点分辨率：0.23nm；信息分辨率：0.13nm 

STEM暗场分辨率：0.078nm@200kV；0.204@60kV 

EDS能谱（双探头）能量分辨率：127eV (Mn Ka)；56eV (C Ka) 

Gatan OneView IS超快速CMOS相机：全像素最大采集速度25帧/秒，最高读出速度300fps@512′512 pixels 

Gatan 965 GIF Quantum ER能量过滤/电子能量损失谱系统：系统分辨率优于0.5eV@200kV；配备DualEELS功能、空间分辨选区EELS功能（SR-EELS） 　　  

设备功能 

主要用于无机材料原子尺度的结构和元素表征，仪器的功能包括：  

电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射  

成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、原子分辨STEM像 (明场（BF）像、高角环状暗场（HAADF）像、环状明场（ABF）像)  

微区成分：可达原子尺度的EDS和EELS的点、线和面分析 ；EELS的能量过滤像 

二次电子像：样品表面形貌及高分辨成像 

原位表征：气氛引入原位系统 (MEMS加热样品杆附件：室温~1000°C)  　  

应用范围 

除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材 　　  

联系方式 

联系人：鲍伟超

地址：上海市嘉定区和硕路585号E楼107房间

电话：021-69163668

三、JEOL JEM-F200场发射透射电子显微镜

仪器参数

加速电压：200 kV；80 kV；

TEM点分辨率：0.23 nm；线分辨率：0.10 nm；

STEM分辨率：0.16 nm；

EDS能谱：日本电子双探头；

相机：Gatan RIO 16 CMO；

EELS GIF能量过滤/电子能量损失谱系统：Gatan 1077 Continuum 5；

配备差分相位衬度分析系统(DPC)：十六分割SAAF系统

设备功能

主要用于无机材料微观结构与组成的分析和研究，仪器的功能包括： 

电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射 

成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、扫描透射像 (明场像、环状暗场像)、差分相位衬度（DPC）像

微区成分：EDS和EELS的点、线和面分析；EELS的能量过滤像

二次电子像和背散射像：样品表面形貌成像

原位表征：温场、电场、力场下的结构演变 (加热样品杆附件：室温~1000°C)

应用范围

除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材

联系方式

联系人：傅正钱，于子怡

地址：上海市长宁区1295号3号楼一楼

电话：021-52413104

四、JEM-2100F场发射透射电子显微镜

仪器参数： 

超高分辨极靴 (UHR) 

点分辨率：0.19nm；线分辨率：0.14nm 

STEM (HAADF)分辨率：0.20nm 

最小束斑：0.2nm 

样品杆最大倾斜角 (X、Y):  ±25° 

Oxford能谱仪 (EDS)　　　　能量分辨率：~130eV (MnK线)

　　　　　　　　　　　　　元素范围：⁵B ~ ⁹²U 

设备功能： 

主要用于无机材料微观结构与组成的分析和研究，仪器的功能包括： 

电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射 

成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、扫描透射像 (明场像、环状暗场像) 

微区成分：EDS能谱的点、线和面分析 

原位表征：温场下的结构演变 (加热样品杆附件：室温~1000°C) 

应用范围 

材料范围：除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于有机和生物材料 

表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布 

　　　　　晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成 

　　　　　结构相变原位研究

联系方式：

联系人：姚鹤良，傅正钱

地址：上海市长宁区1295号3号楼一楼

电话：021-52413104

五、FEI Tecnai G2 F20场发射透射电子显微镜

仪器参数：

加速电压：200kV

高分辨极靴 (S-TWIN)

点分辨率：0.24nm；线分辨率：0.14nm

STEM (HAADF)分辨率：0.19nm

电子束能量色散：<0.7eV

最大束流：>100nA；1nm束斑最大束流：>0.5nA

样品最大倾斜角：?40?

EELS (Gatan Enfina)能量分辨率：0.7eV

EDAX能谱仪 (EDS)：5B~92U；能量分辨率：~130eV (Mn K?线)

设备功能：

主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究，仪器的功能包括：

电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射

成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、扫描透射像（明场像、环状暗场像、Z-衬度像）

微区成分：EELS和EDS能谱的点、线和面分析

应用范围：

材料范围：除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于有机和生物材料

表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等

联系方式：

联系人：张琳琳

地址：上海市嘉定区和硕路585号E楼101房间

电话：021-69163662

六、JEM-1400 120kV透射电子显微镜

仪器参数:

加速电压：60~120kV可调

点分辨率：0.38nm；线分辨率：0.20nm

样品最大倾斜角：?25?

Oxford能谱仪 (EDS)：80mm2探头；5B~92U；能量分辨率：127eV (Mn K?线)

三维重构：样品杆最大倾角?70?；三维重构软件包

设备功能:

主要用于无机、有机和生物材料的形貌和组成分析，仪器的功能包括：

电子衍射、形貌像、组成的EDS能谱分析、形貌的三维重构

应用范围:

材料范围：除强磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；有机和生物材料

表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、化学组成、三维重构等

联系方式：

联系人：姚鹤良

地址：上海市长宁区1295号3号楼一楼

电话：021-52413104

制样设备

超声分散；切割研磨；离子减薄；超薄切片；镀膜仪；等离子清洗