仪器参数： 

　　旋转阳极Cu靶；X射线发生器最大输出功率6kW，额定电压40kV，额定电流150mA；能量色散阵列探测器的能量分辨率优于380eV；高精度五轴尤拉环样品台。 

　　应用范围： 

　　掠入射XRD、常规XRD扫描、物相定性分析、物相定量分析、结晶度、晶胞参数精确计算、晶粒尺寸（微观应力）、Rietveld结构精修等 

　　Bruker D8 Discover微焦斑二维X射线衍射仪　

　　联系人：阮音捷、程国峰 

　　地址：上海市和硕路585号E楼201室 

　　电话：021-69163600、021-69163558 

　　邮件：ryj@mail.sic.ac.cn 

　　gfcheng@mail.sic.ac.cn 

　　仪器参数： 

　　微聚焦X射线光源I S，光源通量（出光口，配合多层膜反射镜子）：不小于1.0x10¹⁰cps/mm²

　　探测器有效面积：≥140mm × 140mm 

　　像素尺寸：不大于68 μm ×68 μm   

　　最小光斑尺寸20 μm 

　　样品台：高精度五轴尤拉环样品台 

　　应用范围： 

　　1. 微区XRD分析 

　　2. 残余应力测定 

　　3. 织构测定 

　　4. 高通量XRD表征 

　　Bruker D8 Advance原位X射线衍射仪  　　

　　联系人：阮音捷、程国峰 

　　地址：上海市和硕路585号E楼201室 

　　电话： 021-69163600、021-69163558 

　　邮件： ryj@mail.sic.ac.cn 

　　gfcheng@mail.sic.ac.cn 

　　仪器参数：  

　　X射线发生器：Cu靶，功率3kW，陶瓷光管  

　　扫描方式： θ-θ 测角仪  

　　探测器：LynxEye阵列探测器  

　　温度范围：RT-1600℃、-180-450℃、RT-900℃、RT-2300℃ 

　　原位附件：RT-900 原位化学反应池（可通H₂/O₂、加压）、电催化原位反应池、锂（空）电池原位反应池、电场原位（场强：0-6MV·m^-1） 

　　应用范围：  

　　1、可进行粉体、块体、薄膜等材料在真空、N₂气、Ar气等环境下的高低温X射线分析，用来研究材料的相变过程及热力学性质； 

　　2、可进行材料的原位化学反应、原位电催化X射线衍射研究；可进行锂（空）电池的原位X射线衍射研究；

　　3、可进行电场作用下材料的晶体结构演化研究。 

　　Bruker D8 Discover高分辨X射线衍射仪 　

　　联系人：阮音捷、程国峰 

　　地址：上海市和硕路585号E楼201室 

　　电话： 021-69163600\021-69163558 

　　邮件： ryj@mail.sic.ac.cn 

　　gfcheng@mail.sic.ac.cn

　　仪器参数：  

　　X射线发生器：Cu靶，功率3kW，陶瓷光管  

　　扫描方式： θ-θ测角仪  

　　探测器：LynxEye阵列探测器、NaI闪烁计数器  

　　光学附件：Gobel镜、Ge(022)分析晶体  

　　高精度五轴全自动尤拉环：CHI圆，-11°-98°；PHI圆，360°；X轴平移, 80mm；Y轴平移，80mm；Z轴平移，3mm   

　　高温附件：RT-1100℃ 

　　应用范围：  

　　1、薄膜掠入射分析（GID）：精确分析多层膜中材料的组成、次序、取向等；  

　　2、薄膜反射分析(XRR)：针对多晶、单晶多层薄膜厚度、密度、粗燥度进行精确分析；  

　　3、高分辨衍射(HRXRD)：针对高质量的外延薄膜、单晶材料，开展摇摆曲线，倒易空间mapping分析。  

　　4、可进行单晶外延膜等材料的退火研究/高温下的高分辨X射线衍射表征。 

　　Bruker D8 VENTURE微焦斑转靶单晶X射线衍射仪

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