11月16日下午，中国科学院上海硅酸盐所特种涂层中心党支部和无机材料分析测试中心党支部联合开展“我为群众办实事——先进无机材料分析测试技术交流与研讨”活动。上海硅酸盐所党委委员卓尚军,涂层中心主任于云，测试中心副主任、党支部书记钱荣，涂层中心党支部书记孟佳，以及双方30余名党员和学生参加了活动。活动由孟佳主持。 

　　会上，测试中心针对无机材料最新的分析测试技术开展了主题报告。

　　钱荣对辉光放电质谱分析方法进行了介绍。辉光放电质谱(GD-MS)是一种固体材料成分直接分析与研究的手段，具有可测元素种类丰富（Li~U）、灵敏度高、检出限低、浓度响应范围宽、基体效应小等特点，能直接获得固体材料从主量到微量乃至超痕量元素的浓度信息，目前已广泛应用于材料科学、地球科学、环境科学等领域，是一种固体材料成分分析的有效手段。

　　曾旺对辉光放电光谱分析方法进行了介绍。辉光放电光谱(GD-OES)能够快速、灵敏地直接分析镀层/薄膜/涂层样品（包括导体、半导体、非导体）中元素的含量以及元素随深度的分布情况。可为固体材料提供由表及里的元素组成及分布信息，为材料元素的扩散与偏析、材料性能探究等提供关键的科学依据。目前已广泛应用于半导体芯片、锂电池正负极、太阳能光伏、硬盘表面处理等领域，是固体材料成分深度分析的重要手段之一。

　　申如香对X射线光电子能谱（XPS）分析方法的原理、XPS技术在材料表征中的应用以及发展方向进行了简单介绍。由于XPS具有很高的表面灵敏度，适合于有关涉及到表面元素定性和定量分析方面的应用，特别是元素化学价态的研究。此外，配合离子束剥离技术，还可以进行薄膜材料的深度分析和界面分析。因此，XPS在能源、环境、化学、生物、纳米器件、航空航天、半导体、陶瓷、考古等领域都有广泛地应用，特别是在一些以材料表面为主要研究对象和关键问题的科研领域，XPS是不可或缺的必备研究工具和分析手段。

　　高捷对X射线荧光光谱分析方法进行了介绍。X射线荧光光谱(XRF)是一种常用的化学成分表征手段，具有可分析元素多、可分析浓度范围宽、可进行涂层厚度和化学组成的同时测定、可非破坏分析等独特优势。该方法对于材料研发过程中的化学组分设计与优化、未知样品的快速解析和产品的质量控制都具有重要作用，已成为先进材料研发与生产过程中不可取代的重要手段。 

　　随后两支部就目前涂层样品面临的检测和表征问题，开展了深入的交流与讨论。此次联合组织生活，紧紧围绕党建与业务融合开展，聚焦聚力部门的重点工作，以支部共建推动实现业务合作与融合发展。

会议现场