中国科学院上海硅酸盐研究所测试中心新引进的X射线显微镜（蔡司 Xradia 620 Versa）目前已安装调试完成并开始试运行。

　　X射线显微镜（XRM）是材料研究必备的三维形貌和缺陷表征手段，具有纳米量级的空间分辨率，可对材料进行原位、无损的微观结构检测，可表征材料中孔隙、微裂纹等缺陷以及纤维方向、夹杂等，可通过分析微观模型尺寸对材料宏观属性的影响，从而对材料性能进行预测。具体包括：（1）缺陷分析：材料微裂纹等缺陷的分布，基体的粘结程度和界面的形态，以及局部纤维取向和厚度，颗粒尺寸和形状，模拟其在三维空间内萌生、扩展以及合并的过程。（2）三维形貌分析：材料孔径大小、分布，纤维的类型、半径、长度、朝向以及扭曲度进行定性定量表征，材料微观三维结构，如孔隙率、孔隙连通性、孔径大小等的表征和三维重构。

　　仪器主要性能指标：三维成像空间分辨率最高500nm，温度最大150℃，拉伸力最大5kN。

　　欢迎广大科研人员使用。

　　地址：嘉定E楼209 电话：021-69163602/3558