一种温差电器件制冷性能测试系统--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

一种温差电器件制冷性能测试系统

专利类别:

实用新型

专利（申请）号:

202321664114.7

申请日期:

2023/6/28

第一发明人:

廖锦城

其他发明人:

柏胜强，史迅，陈立东

专利授权日期:

2023/12/8