一种用于扫描电镜观察陶瓷内部微观结构的制样方法--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

一种用于扫描电镜观察陶瓷内部微观结构的制样方法

专利类别:

发明

专利（申请）号:

202010573950.9

申请日期:

2020/6/22

第一发明人:

章健

其他发明人:

刘梦玮，赵瑾，岛井骏藏，王士维，陈晗，陈鹤拓

专利授权日期:

20220510