一种激光剥蚀电感耦合等离子体质谱的定量分析方法--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

一种激光剥蚀电感耦合等离子体质谱的定量分析方法

专利类别:

发明

专利（申请）号:

201910683470.5

申请日期:

2019/7/26

第一发明人:

汪正

其他发明人:

郭琳倩，李青，张国霞，陈奕睿

专利授权日期:

20220712