适用50-150K低温材料光谱发射率测量的方法和装置--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

适用50-150K低温材料光谱发射率测量的方法和装置

专利类别:

发明

专利（申请）号:

201910788369.6

申请日期:

2019/8/26

第一发明人:

章俞之

其他发明人:

马佳玉，吴岭南，宋力昕

专利授权日期:

20220712