一种材料法向光谱发射率测量装置--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

一种材料法向光谱发射率测量装置

专利类别:

发明

专利（申请）号:

201711123816.3

申请日期:

第一发明人:

方会双

其他发明人:

杨莉萍,钟秋,陶冶,李会东,徐子君,汪文兵,雒彩云

专利授权日期:

20201110