一种直接测量界面接触电阻率的装置和方法--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

一种直接测量界面接触电阻率的装置和方法

专利类别:

发明

专利（申请）号:

201810462164.4

申请日期:

第一发明人:

廖锦城

其他发明人:

夏绪贵,顾明,张骐昊,吴汀,柏胜强,陈立东

专利授权日期:

20201211