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专利数据

专利名称:

一种薄层材料方块电阻和连接点接触电阻测试方法

专利类别:

美国发明

专利(申请)号:

US15/763,974

申请日期:

第一发明人:

张步法

其他发明人:

宋力昕

专利授权日期: