一种用于测量热电块体元件电阻的系统--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

一种用于测量热电块体元件电阻的系统

专利类别:

实用新型

专利（申请）号:

201520757299.5

申请日期:

20150928

第一发明人:

廖锦城,唐云山,夏绪贵,吴汀,柏胜强,陈立东

其他发明人:

专利授权日期:

20160210