一种测定掺铈闪烁晶体中铈离子浓度的方法--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

一种测定掺铈闪烁晶体中铈离子浓度的方法

专利类别:

发明

专利（申请）号:

201310285533.4

申请日期:

20130708

第一发明人:

戴灵恩、冯锡淇、吴承、徐权、陆晟、丁栋舟、唐佳、杨建华

其他发明人:

专利授权日期:

20150325