一种用于分析电极材料电化学性能的同步辐射X射线衍射装置及其应用--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

一种用于分析电极材料电化学性能的同步辐射X射线衍射装置及其应用

专利类别:

发明

专利（申请）号:

201210513787.2

申请日期:

20121204

第一发明人:

郭向欣、赵宁、崔忠慧

其他发明人:

专利授权日期:

20150819