一种基于扫描热学显微镜原位表征纳米热电塞贝克系数的装置--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

一种基于扫描热学显微镜原位表征纳米热电塞贝克系数的装置

专利类别:

发明

专利（申请）号:

201310284525.8

申请日期:

20130708

第一发明人:

曾华荣、陈立东、徐琨淇、赵坤宇、李国荣

其他发明人:

专利授权日期: