具有内禀铁磁性的ZnO基稀磁半导体薄膜及其制备方法--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

具有内禀铁磁性的ZnO基稀磁半导体薄膜及其制备方法

专利类别:

发明

专利（申请）号:

201210185344.5

申请日期:

20120607

第一发明人:

熊泽、刘学超、卓世异、孔海宽、杨建华、施尔畏

其他发明人:

专利授权日期:

20140716