一种评估钨酸铅晶体的抗辐照性能的检测方法--中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利数据

专利名称:

一种评估钨酸铅晶体的抗辐照性能的检测方法

专利类别:

发明专利

专利（申请）号:

200810203917.6

申请日期:

2008-12-3

第一发明人:

熊巍

其他发明人:

专利授权日期: