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测试设备
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X射线辐照低温热释光系统，主要用于测试X射线（钨靶）激发下的紫外－可见荧光发射光谱以及热释光谱（可用X射线现场辐照），X光管工作电压33-75kV，电流2.5mA；测试温度范围77-400K；扫描波长范围200-950nm，波长分辨率<6nm。 |
Varian Cary 5000近红外-紫外-可见分光光度计，主要用于固体样品的透过率、吸光度和漫反射率表征，扫描波长范围190-3300nm；波长分辨率<0.05nm；波长精确度±0.1nm；吸光度精确度±0.0003A |
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FJ427A微机热释光剂量仪，主要用于固体的高温热释光测试，扫描温度范围：RT～400℃；升温速度0～40℃；恒温时间0～500s；仪器灵敏度≤5％；最大相对误差≤±5％。
样品为薄片，最大直径10mm，厚度≤0.6 mm。 |
Huber G670 X射线粉末衍射仪，主要用于粉末衍射定性和定量分析，铜靶X光管工作电压40kV，电流30mA；扫描2θ范围：5°-100°；精确度±0.005°，透射纪尼叶几何模式，撒样法制样，可用于超微量粉末（～0.005g）和毛细管封装样品。 |
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自建组合式多用荧光光谱测试平台（SicOmni-Ⅰ），主要用于测试紫外－可见－红外激发/发射光谱（含光致发射光谱），扫描波长220—2500nm，波长分辨率<0.2nm；波长精确度±0.5nm；光源可选氙灯或固体激光器。 |
自建X射线激发荧光发射光谱仪（SicOmni-X），主要用于测试X射线（钨靶）激发下的紫外－可见发射光谱，X光管工作电压70-75kV，电流50mA，扫描波长220—1500nm，波长分辨率<0.2nm；波长精确度±0.5nm，可用于液态和固态样品（包括粉末、陶瓷和单晶）。 |
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Instantspec BWS003紫外可见漫反射光谱仪，主要用于粉末或块体的漫反射率表征，扫描波长范围200-900nm，波长分辨率0.1nm，波长可重复性0.2nm，PTFE（特氟龙）标样。 |
WCT-2D微机差热天平，主要用于热重和差热两种热分析，测试温度范围：室温－1450℃，精确度±0.1℃；差热测量范围1000μV，精确度±0.1μV；热重测量范围300mg，精确度±0.1μg；空气/氮气氛。 |
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布劳恩惰性手套箱，主要用于对空气或水敏感样品的处理以及存储，水和氧浓度为ppm数量级，最低可达0.1ppm，内置冰箱，可用于惰性气氛下低温保存生物药品等，配置体视显微镜，可用于小样品的观察和挑选 |
HAD-FD-FZ-I型法拉第－塞曼效应综合实验仪，主要用于磁场作用下旋光和光谱分裂测试；氦氖激光器波长632.8nm，输出功率>1.5mW，光斑直径2.6mm；磁感应强度≤1.28T；标尺读数分辨率0.01mm，测量范围8mm；法拉第旋转角≥ 2’。 |
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奥林巴斯（Olympus）BX51三维数码体视显微镜，主要用于微米级体视成像，可表征陶瓷表面及内部气孔分布，CCD像素20万～1250万；物镜倍数1.25X～100X；载物台垂直运动，行程25mm，最小调节距离1μm；内置透射光柯勒照明器，100W卤素灯。 |
ZYGO GPI XP/D型激光干涉仪，主要用于反射面或光学面的形貌表征；基于激光3维相移干涉法；640 x 480 CCD；光束直径4″(102 mm)；分辨率>λ/8,000；条纹分辨率3180条纹；氦-氖激光波长632.8 nm；相干长度＞100 m；样件尺寸范围254 x 203 x 203 mm。 |
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自建散射系数测量系统，Nd:YAG激光器，波长1064nm，800mJ，出口光斑16mm；积分球直径300mm，F4涂层，通光孔直径8mm；PD10硅光电式散射光探测器（0.19~1.1um）；PE25BF高损伤阈值热释电透射光探测器。 |
自建激光晶体消光比测试仪，主要用于表征立方晶系光学晶体内部残留应力等引起的双折射产生的消光比，从而衡量晶体的各向同性以及退偏度；采用He-Ne激光器，632.8nm；系统本身的消光比≥45 dB；工作物质消光比测试精度优于3%；探测信号灵敏度0.1μV。 |
